產品詳情
簡單介紹：
電子材料測量離子遷移評估系統是一種信賴性試驗設備，它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經過長時間的測試（1~1000小時可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現象發生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現象的影響
詳情介紹：
溫濕度耦合離子遷移評估系統
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產品簡介離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導致絕緣性能下降。
絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統是一種信賴性試驗設備，它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經過長時間的測試（1~1000小時可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現象發生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現象的影響
參數規格
測量電壓:100 ~ 1500V（可定制）
測試通道:128通道（可定制至960通道）
測試時長:可連續運行1500小時
測試溫度:85℃（可定制）
測試濕度:85%（可定制）
測量范圍:1×10^5~ 1×10^15Ω
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
