產品詳情
簡單介紹：
表面電位衰減測試系統是一款面向材料電學特性研究的高準度、多功能分析設備，為評估介質材料表面電荷動態衰減行為及陷阱能級分布而設計
詳情介紹：
絕緣介質檢測電荷衰減測試儀
源頭工廠支持定制，更多詳情歡迎咨詢
參數規格充電電源：±30 kV
加熱臺溫度范圍：室溫~ 160 ℃
控溫精度：± 0.2 ℃
輸入電壓：AC 220 V ±10%，50 HZ
額定輸出電壓：0～+30kV
額定輸出電流：≤ 1 mA
測量范圍：0 ~ ±10 kV
穩定性：時間漂移<100 ppm/小時（非累積）；溫度漂移<200 ppm/℃
極化電極：針、柵、板電極
應用領域
絕緣材料研發
評估高壓電纜、電容器薄膜等介電材料的耐壓性能與電荷消散特性
功能薄膜分析
研究光伏背板、柔性電子器件的表面電荷行為及陷阱效應
半導體器件優化
表征柵極介質層、封裝材料的電荷陷阱分布，提升器件可靠性
科研與教育
高校及實驗室用于電介質物理、材料科學等領域的基礎研究與教學實驗
電力設備質檢
檢測絕緣子、變壓器套管等電力裝備的絕緣老化狀態及壽命預測
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
