產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
高壓TSDC熱刺激電流測試系統(tǒng)用于預(yù)測EMC的HTRB性能。TSDC方法包括極化過程，在該過程中，電介質(zhì)樣品暴露在高電場強度和高溫環(huán)境下。在這種情況下，電荷被分離并在介電材料電子元件中移動。
詳情介紹：
半導(dǎo)體陷阱特性熱刺激電流系統(tǒng)
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產(chǎn)品簡介高壓TSDC熱刺激電流測試系統(tǒng)用于預(yù)測EMC的HTRB性能。TSDC方法包括極化過程，在該過程中，電介質(zhì)樣品暴露在高電場強度和高溫環(huán)境下。在這種情況下，電荷被分離并在介電材料電子元件中移動。
TSDC是一種研究電荷存儲特性的試驗技術(shù)，用于確定初始電荷和捕獲電荷的活化能以及弛豫
參數(shù)規(guī)格
溫度范圍：-100~300°C
控溫精度：±0.25°C
升溫斜率：10℃/min（可設(shè)定）
測試頻率：電壓上限：±10kV
加熱方式：空氣加熱
降溫方式：液氮
應(yīng)用領(lǐng)域
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
