產品詳情
簡單介紹：
電子材料測量離子遷移評估系統是一種信賴性試驗設備，它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經過長時間的測試（1~1000小時可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現象發生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現象的影響
詳情介紹：
電路板SIR絕緣電阻劣化測試系統
參數規格
測量電壓:100 ~ 1500V（可定制）
測試通道:128通道（可定制至960通道）
測試時長:可連續運行1500小時
測試溫度:85℃（可定制）
測試濕度:85%（可定制）
測量范圍:1×10^5~ 1×10^15Ω
極化電壓:100 ~ 1500V（可定制）
掃描周期:至快2分鐘（128通道）
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
