產品詳情
簡單介紹：
多通道介電性能分析測試模塊是一種集成化測試系統，主要用于準確地評估材料的介電性能與電阻特性，可以搭載阻抗分析儀、高阻計等設備使用，此測試模塊穩定性強、實現智能化與自動化、可靠耐用、模塊化設計，應用在材料科學、新能源、半導體領域等領域
詳情介紹：
半導體器件電學多通道LCR測試模塊
操作系統
LCR多路測試軟件
1.掃描、比較器
針對各個通道設置測試條件(量程、頻率、比較器等)
可選定某個通道的ON與OFF
可循環進行掃描測試
同時可在本地保存測試條件
2.OPEN&SHORT補償
可對應各通道的開短路補償
如若利用LCR的設置切換功能則需要較長的切換時間，在軟件內進行開短路補償計算，可維持高速的掃描時間
3.數據保存
掃描的數據可根據通道進行保存
參數規格
支持的儀器：Keysight、Tonghui、Wayne Kerr、HIOKI、Huace等儀表
通道數：10通道
回路電阻：0.5Ω(輸入-輸出端子、參考値)
靜電電容：0.2 pF(輸入端子-OFF通道間、有Guard、參考値)
接點規格：輸入電壓1000V
允許電流容量：200 mA ( AC peak/DC )
絕緣電阻：100 TΩ以上(通道-外殼之間/通道屏蔽層-外殼之間( LCUR除外) )
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
