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HCMP 多通道介電電阻測試模塊在 MLCC 多層陶瓷電容器批量阻抗篩選中的應(yīng)用

日期:2026-11-02 14:11
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摘要: HCMP 多通道介電電阻測試模塊在 MLCC 多層陶瓷電容器批量阻抗篩選中的應(yīng)用 MLCC 多層陶瓷電容器出廠需要檢測電容、損耗阻抗參數(shù),同批次需要抽檢大量器件。單通道 LCR 需要人工逐個上料測試,產(chǎn)線抽檢效率低;人工操作帶來接觸不一致,容易造成誤判。HCMP 多通道介電電阻測試模塊,實現(xiàn)多只 MLCC 器件循環(huán)自動化阻抗掃描,滿足元器件質(zhì)檢篩選。 一、傳統(tǒng) MLCC 抽檢測試痛點 單通道逐只檢測,大批量抽檢耗時久,產(chǎn)線檢測節(jié)拍難以滿足。 器件反復(fù)插拔裝夾,接觸電阻變化,造成電容、損耗測量波動,出現(xiàn)誤判。...

HCMP 多通道介電電阻測試模塊在 MLCC 多層陶瓷電容器批量阻抗篩選中的應(yīng)用

MLCC 多層陶瓷電容器出廠需要檢測電容、損耗阻抗參數(shù),同批次需要抽檢大量器件。單通道 LCR 需要人工逐個上料測試,產(chǎn)線抽檢效率低;人工操作帶來接觸不一致,容易造成誤判。HCMP 多通道介電電阻測試模塊,實現(xiàn)多只 MLCC 器件循環(huán)自動化阻抗掃描,滿足元器件質(zhì)檢篩選。

一、傳統(tǒng) MLCC 抽檢測試痛點

單通道逐只檢測,大批量抽檢耗時久,產(chǎn)線檢測節(jié)拍難以滿足。

器件反復(fù)插拔裝夾,接觸電阻變化,造成電容、損耗測量波動,出現(xiàn)誤判。

多路矩陣缺少分通道補(bǔ)償,不同通道夾具線纜寄生參數(shù)不一致,測試基準(zhǔn)不統(tǒng)一。

需要人工對比合格閾值,故障器件識別、數(shù)據(jù)歸檔繁瑣。

二、MLCC 批量篩選測試方案

HCMP 10 通道模塊,接點承受 1000V,允許電流 200mA;光耦繼電器 1ms 高速切換,可同時掛載多只 MLCC 器件。CN040 軟件可對每個通道設(shè)置量程、頻率、比較器閾值,執(zhí)行循環(huán)掃描;支持各通道單獨開短路補(bǔ)償,抵消夾具線纜寄生參數(shù);自動完成合格 / 不合格判定,測試數(shù)據(jù)自動保存,通過 USB/LAN/R-232 通訊輸出。

三、質(zhì)檢應(yīng)用價值

元器件實驗室完成 MLCC 批次抽樣檢測;多器件并行循環(huán)掃描,提升抽檢效率;減少器件反復(fù)拆裝帶來的接觸誤差;自動判別差樣品,數(shù)據(jù)完整留存便于品質(zhì)溯源。

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