整卷無損篩查｜HCRD-300L 電弱點測試儀賦能電容器介質(zhì)薄膜質(zhì)量驗證
整卷無損篩查｜HCRD-300L 電弱點測試儀賦能電容器介質(zhì)薄膜質(zhì)量驗證
BOPP 聚丙烯、PET 聚酯薄膜是薄膜電容器的絕緣介質(zhì)，薄膜中微小電弱點會造成局部放電，反復(fù)自愈將加速電容老化，導(dǎo)致容量衰減，嚴(yán)重時引發(fā)電容器鼓包擊穿故障。華測儀器 HCRD-300L 系列電弱點測試儀，針對電容器用絕緣薄膜開發(fā)，實現(xiàn)寬幅卷材不間斷連續(xù)電弱點掃描，服務(wù)光伏、儲能、電力電子電容器基材研發(fā)與來料質(zhì)檢。
常規(guī)小樣抽樣檢測存在漏檢風(fēng)險，難以反映卷材橫向、縱向弱點分布。HCRD-300L 可直接上原始大卷薄膜，無需分切制樣，規(guī)避制樣帶來的額外損傷，檢測結(jié)果更加貼合實際工況。設(shè)備兼容交流、直流兩種測試工況，可匹配交流濾波電容、直流支撐電容不同電壓考核條件；低通濾波電流監(jiān)測技術(shù)，區(qū)分真實擊穿信號與靜電、電暈干擾，降低誤判概率。
軟件自動統(tǒng)計電弱點數(shù)量、位置、分布密度，原始數(shù)據(jù)可導(dǎo)出 Excel，生成完整測試報告，滿足 GB/T13542-2009、IEC 60674-2:2009 標(biāo)準(zhǔn)檢測要求。既可以用于薄膜新材料配方比對、工藝改良驗證，也可用于進(jìn)廠原材料的質(zhì)量驗收。
HCRD-300L 可與電壓擊穿、絕緣電阻率測試設(shè)備組合使用，構(gòu)建絕緣薄膜從單點擊穿強(qiáng)度到整卷電弱點篩查的完整測試鏈條。華測儀器試驗室可提供上機(jī)測試服務(wù)，為薄膜企業(yè)、電容器廠商提供樣品檢測與測試方案咨詢，助力國產(chǎn)電容器介質(zhì)薄膜品質(zhì)提升。
