產品詳情
簡單介紹：
半導體塞貝克系數電阻測試儀由華測儀器生產,是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1500℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率，該產品具有寬溫區覆蓋、高適應性、精度高和多功能集成等特點
詳情介紹：
熱電轉換塞貝克系數電阻測試儀
源頭工廠支持定制，更多詳情歡迎咨詢
產品特點01.文本編輯
02.重復測量可少的輸入參數
03.實時測量分析
04.測量曲線比較:多達32條曲線
05.曲線扣除
06.曲線放大縮小
07.一階/二階求導
08.多重峰分析
09.樣品溫度多點校正
10.多種方法分析(DSCTG、TMA、DIL等)
11.焓變多點校正
12.熱流Cp測量
13.評估結果保存及導出
14.ASCII數據導入與導出
15.數據生成到MS Excel
16.信號控制測量測序
參數規格
溫度范圍:RT~800/1100/1500℃
測量原理：塞貝克系數:靜態直流法;電阻率:四端法
樣品支架:三明治結構夾與兩電極之間
樣品尺寸(園柱形或棱柱形):2至5mm(面寬)，23mm，中6mm，23mm
樣品尺寸(園盤狀):10、12.7、25.4 mm
可調探頭距離:4、6、8mm
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
