產品詳情
簡單介紹：
探針冷熱臺是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。
詳情介紹：
器件電學性能評估探針冷熱臺
源頭工廠支持定制，更多詳情歡迎咨詢
應用領域半導體材料與器件測試
可表征半導體材料（如硅基、化合物半導體）在不同溫度下的電學性能，適用于MOSFET、二極管、晶體管等器件的變溫I-V/C-V特性測試。
介電、鐵電與壓電材料研究
用于研究介電常數、鐵電滯回線、壓電響應隨溫度變化的規律，適用于新型功能材料的研究與開發。
與低維結構電學表征
如石墨烯、二維材料（MoS?、WS?等）等在變溫環境下的導電性能測試。
超導材料研究
液氮制冷可實現低溫至-180℃，適用于超導材料的臨界溫度（Tc）測試及低溫電輸運特性研究。
相變材料與存儲器件
研究相變存儲器（如GST材料）在溫度變化下的電阻切換行為，評估其熱穩定性與可靠性。
參數規格
溫控模塊
冷熱方式：液氮制冷，電阻加熱
溫控范圍：-180℃~600 ℃/RT~1000℃（選型）
溫度穩定性：±0.1 ℃
光學特性
光路：反射光路，可升級為透射光路
視窗材質：石英玻璃（可定制）
視窗尺寸：Φ25 mm
物鏡工作距離：10 mm
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
