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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱(chēng)：TSDC電卡效應(yīng)塞貝克系數(shù)綜合裝置

  • 產(chǎn)品型號(hào)：HCTD-3000
  • 產(chǎn)品廠(chǎng)商：華測(cè)儀器
  • 產(chǎn)品價(jià)格：0
  • 折扣價(jià)格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡(jiǎn)單介紹：
絕緣電阻功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn)，是一款為科研、材料開(kāi)發(fā)、工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng)
詳情介紹：

TSDC電卡效應(yīng)塞貝克系數(shù)綜合裝置

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檢測(cè)項(xiàng)目
熱釋電測(cè)試功能
主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測(cè)試。采用電流法進(jìn)行測(cè)量材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對(duì)溫度和時(shí)間的曲線(xiàn)
薄膜材料變溫范圍：－196℃~＋600℃
塊體材料變溫范圍：RT~200℃、RT~600℃、RT~800°C
電卡效應(yīng)測(cè)試功能
可以用于測(cè)試材料，在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能
溫度范圍：-50℃~200℃；
熱流時(shí)間范圍：1s-1000s；
電壓可達(dá)10kV；
波形：用戶(hù)自定、脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預(yù)定義波形
塞貝克系數(shù)／電阻測(cè)量系統(tǒng)
適用于半導(dǎo)體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析；可根據(jù)用戶(hù)需求配置薄膜測(cè)量選件，低溫選件溫度范圍-100℃ ~200℃，高阻選件高至10MΩ


公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.

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