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產品詳情
  • 產品名稱:薄膜復合低頻電壓擊穿測試儀

  • 產品型號:HCDJC-1F
  • 產品廠商:華測儀器
  • 產品價格:0
  • 折扣價格:0
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簡單介紹:
變頻電壓擊穿試驗儀由華測儀器生產制造,是絕緣材料電氣性能檢測用升級設備,適配電力、電子、材料研發(fā)等行業(yè),可測試絕緣材料在變頻電壓工況下的擊穿強度、耐電壓時間等指標。設備適用變頻電壓調控技術,能模擬不同頻率電壓環(huán)境,捕捉材料變頻工況下的性能變化,為研發(fā)與質量驗證提供科學數據
詳情介紹:

薄膜復合低頻電壓擊穿測試儀

產品優(yōu)勢
1.用于驅動容性負載的四象限輸出
2.高精度的閉環(huán)系統
3.短路保護,用于設備保護
4.直流穩(wěn)定,適用于可編程電源應用
5輸出噪聲低,適用于超準確輸出
6全固態(tài)設計,免維護運行
參數規(guī)格
輸出電壓:0 ~ ±5kV DC或峰值AC
輸出電流:0 ~ ±80mA DC
升壓速率:自定義
耐壓時間:可選
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.

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