產品詳情
簡單介紹：
半導體塞貝克系數電阻測試儀由華測儀器生產,是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1500℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率，該產品具有寬溫區覆蓋、高適應性、精度高和多功能集成等特點，主要服務于熱電材料研發、新能源器件測試及半導體性能分析等領域
詳情介紹：
ZT檢測塞貝克系數電阻測試儀
產品優勢
1.寬溫區覆蓋與高適應性
支持RT至1500℃超寬溫度范圍，兼容低溫至高溫測試，滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求
提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環境，適配材料在不同反應條件下的性能評估
2.高精度與多功能集成
塞貝克系數電阻測試儀塞貝克系數測量范圍1～2500μV/K，準確度達±7%，重復性±3%，準確捕捉微弱熱電效應
電導率測量范圍覆蓋0.01～2×10^5S/cm，準確度±5～8%，支持從絕緣體到導體的全品類材料電阻率分析
采用靜態直流法（塞貝克系數）與四端法（電阻率），確保測量結果穩定可靠
3.靈活兼容性與操作便捷性
支持圓柱形（φ6mm）、棱柱形（2~5mm面寬）及圓盤狀（10~25.4mm）多種樣品尺寸，適配復雜形狀試樣
可調探頭距離（4/6/8mm）與三明治夾持結構，保障樣品接觸穩定性，減少測量誤差
電極材料可選鎳（-100～500℃）或鉑（-100～1500℃），靈活應對不同溫區與材料特性
4.高穩定性與長周期測試能力
電源輸出0～1A，具備長期穩定性，支持連續高溫實驗與長時間數據采集
配備K/S/C型熱電偶，實現準確溫度監控與閉環控制
參數規格
溫度范圍:RT~800/1100/1500℃
塞貝克系數測量范圍:1~ 2500uV/K準確度±7%;重復性±3%
電導率測量范圍:0.01~2*10^5s/cm準確度±5-8%;再現性±3%
電源:0~ 1A，具長期穩定性
電極材料:鎳(-100至500“C)/鉑(-100至+1500°C)
熱電偶:K/S/C型
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd.
